<%@LANGUAGE="VBSCRIPT" CODEPAGE="936"%> 2007年中国集成电路产业发展研讨会暨第十届中国半导体行业协会集成电路分会年会
 

 

 

 活动之一:会议核心论坛 中国集成电路先进技术

    会议第一天下午核心论坛“中国集成电路先进技术”由上海市半导体行业协会副秘书长薛自先生主持,来自日立(中国)有限公司营业开发中心经理张立峰先生对“企业节能诊断”进行了详细的讲解,并在发言中提到“为帮助企业改善能源使用效率,削减运行成本,保障节能生产活动的顺利进行,日立将利用自身的技术和产品,帮助企业进行节能诊断,并根据诊断结果向企业提供综合的解决方案。节能诊断涉及企业使用能源的各个方面,对于集成电路芯片制造和封装测试企业而言,由于这些企业都会在规格不等的洁净室内进行生产,洁净室的正压保持、温度控制及湿度控制会消耗大量的能源。要使洁净室的各项参数达到最节省能源的状态,就需要经过节能诊断之后再进行调整、完善。”;株式会社日立制作所环境对策本部主任技师,工学博士黑川秀昭先生对“触媒式PFC分解技术和装置”进行了介绍;南通富士通微电子股份有限公司技术部部长吴晓纯先生就“南通富士通的封装测试技术”进行了详细的讲解,并在发言中提到:南通富士通十分重视技术水平的提升,公司的低成本MCM/MCP采用了适用于大批量生产的塑封技术,独创性的框架设计解决了封装内部应力问题,使MCP达到与单芯片封装相同的可靠性水平,封装与测试合格率均达到99%以上;FSI华绍国际股份有限公司东南亚/大中华区制程部朱明茂先生作了主题为“The Financial Benefits of All Wet Photoresist Removal for 200mm”的精彩演讲;飞索半导体质量部经理宋宪忠先生和赛灵思中国区总经理Mr.Michael Wu分别围绕“半导体行业实验室技术现状与发展”和“FPGA技术发展与行业需求分析”发表了精彩的演讲。

 

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